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莆田粒度仪订购

更新时间:2025-09-29      点击次数:8

激光粒度仪作为粉体检测设备,常常会面对多尘环境,测试窗口镜片则是会直接接触粉体样品的光学器件。聚焦透镜或者准直透镜等光学镜片受到使用环境中的浮尘污染或者发生霉菌污染,会使纯净的测量光束产生杂散光。这些杂散光会混入样品的散射光中干扰测试;测量窗口镜片上的污染物则会直接产生较强的散射光。因此,光学镜片污染是激光粒度仪测试结果漂移的首要元凶。应对办法主要是尽量让仪器处于干燥无尘的工作环境。经常按照操作规程清洗镜片,保证光学镜片的清洁。粒度仪关机必须按规定的步骤进行,切不可贸然关断电源。莆田粒度仪订购

激光粒度分析仪:测量分析物理颗粒丰度的仪器,依据分散系统分为湿法测试仪器,干法测试仪器,干湿一体测试仪器。其原理是光在传播中,波前受到与波长尺度相当的隙孔或颗粒的限制,以受限波前处各元波为源的发射在空间干涉而产生衍射和散射,衍射和散射的光能的空间(角度)分布与光波波长和隙孔或颗粒的尺度有关。用激光做光源,光为波长一定的单色光后,衍射和散射的光能的空间(角度)分布就只与粒径有关。对颗粒群的衍射,各颗粒级的多少决定着对应各特定角处获得的光能量的大小,各特定角光能量在总光能量中的比例,应反映着各颗粒级的分布丰度。按照这一思路可建立表征粒度级丰度与各特定角处获取的光能量的数学物理模型,进而研制仪器,测量光能,由特定角度测得的光能与总光能的比较推出颗粒群相应粒径级的丰度比例量。湖南自动粒度仪厂家激光粒度分析仪扫描速度,扫描速度快可提高数据准确性,重复性和稳定性。

激光粒度仪的保养程度,对检测结果有较大影响。激光粒度仪需要定期标定维护。在实际的使用过程中发现,部分样品极易在测试过程中附着在仪器的管路内部,从而混入之后的测试样品中带来测试误差。而仪器自带的清洗功能很难解决这类问题,需要在激光粒度测量中引起足够重视。激光粒度仪需要注意反常异动现象,有些折射率下对于部分粒径区间,随着粒径的变小,散射光强分布主峰会向探测器内侧移动,而正常情况下应向探测器外侧移动,从而影响粒度检测的结果。这种现象被称为散射光能分布的反常移动现象。

粒度仪分离颗粒的能力与粒度测试技术选择:依据对颗粒的分离能力.可将测量颗粒的技术分为单颗粒计数、颗粒分级和整体平均结果三类。图像分析、显微镜是典型的单颗粒技术方法;分级方法包括筛分、沉降、离心和颗粒色谱等;整体平均的粒度分析方法,从收集到的所有测量颗粒产生信号的总和计算粒度分析,即测量结果由解析得到,是被测颗粒整体的平均,因此易于实现自动化和在线分析,但分辨率较低。用于催化剂工业生产的颗粒分析仪选择整体平均的方法,实验室研究多数情况希望获得单颗粒技术与外貌信息,分级方法的选择,应当结合测量颗粒性质与测量方式考虑。正确地使用激光粒度仪可以稳定产品质量,提高产品性能,降低能源和产线消耗,提高生产效率。

HORIBA SZ-100 V2 纳米颗粒分析仪技术参数:粒径测量原理:动态光散射法(光子相关光谱法);粒径测定范围:0.3nm ~10μm;粒径测量精度:±2%(NIST 可溯源标准粒子100nm);Zeta 电位测量原理:激光多普勒电泳法;Zeta 电位测量范围:-500 mV ~ +500 mV;分子量测量原理:Debye plot;分子量测量范围:1000 ~ 2×107 Da;测量角度:90° 和173°(可自动或手动选择);样品量:12μL ~ 1000μL。HORIBA 科学仪器事业部为您提供HORIBA SZ-100 V2 纳米颗粒分析仪的参数、价格、型号、原理等信息,HORIBA SZ-100 V2 纳米颗粒分析仪产地为日本、品牌为HORIBA科学仪器事业部,型号为SZ-100 V2,价格为40万-50万RMB,更多相关信息可来电咨询,公司客服电话7*24小时为您服务。激光粒度分析仪依据分散系统分为湿法测试仪器,干法测试仪器。佛山自动粒度仪总代理

粒度仪开机顺序:先开仪器主机和湿法进样器,再开电脑,仪器需要预热15到30分钟。莆田粒度仪订购

麦奇克S3500系列激光粒度分析仪技术特点:1.具备3500系列激光粒度仪的所有特点和功能。2.液相颗粒实时动态测量技术,有效观察悬浮液/乳化液中颗粒的分散状态。3.测量相同浓度的同一样品,结果具有可比性倾斜设计的测量窗口,方便调整清洗,不易沉积颗粒。4.视野清晰,实时显示被测样品在液体介质中的大小和形状,同时统计被测颗粒数量。5.利用对单个参数或多个参数的筛选或过滤,实时监测并量化样品中混入的杂质。6.多种语言的分析软件可供选择。7.软件不但可以提供长度,宽度,面积,周长,圆形度,凹凸度,环状等多于30种形状参数,还可以提供各种参数的分布图。莆田粒度仪订购

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